燈具產(chǎn)品EMC標準CISRP 15:2018版于2018年2月16日已發(fā)布，對比舊版CISRP 15:2013+A1:2015版，其主要變動如下：

　　1.完整的編輯修訂和重組;

　　2.在范圍內(nèi)刪除對主電源和電池操作的限制;

　　3.引入了300 MHz至1 GHz頻率范圍內(nèi)的輻射干擾限值;

　　4.新引用了輻射發(fā)射的替代方案CDNE，該測試方法取代原有的CDN法：

　　4.1.規(guī)定了CDNE法，僅適用于帶時鐘的EUT頻率低于或等于30 MHz。對于CDNE方法，最大尺寸的EUT為3 m x 1 m x 1 m(長 x 寬 x 高);

　　4.2.CISPR 16-2-1的EUT大小限制不適用。

　　5.刪除了插入損耗測試的要求和原來相關(guān)的附錄A;

　　6.引入三個基本端口：有線網(wǎng)絡(luò)端口，本地有線端口和機箱端口;

　　6.1.對于有線網(wǎng)絡(luò)端口的傳導(dǎo)干擾限值，進行了如下修改，可參見標準 Table 2和3.

　　a)名稱由控制端(Control terminals)更新為有線網(wǎng)絡(luò)端口;

　　b)新增使用電流探頭測試的限值。

　　6.2.對于本地有線端口的傳導(dǎo)干擾限制值，進行了如下修改，可參見標準 Table 5 和6.

　　a)名稱由負載終端(load terminals)改為了本地有線端口;

　　b)新增使用電流探頭測試的限值。

　　6.3.新引入的機箱端口，可參考標準section4.5 and 5.3.4

　　7.修改錐形外殼金屬孔的要求;

　　8.對于使用GU10燈頭的自鎮(zhèn)流燈，增加了新的傳導(dǎo)干擾測量方法;

　　9.修正了部分燈具類產(chǎn)品測試前所需求的老化時間，并明確說明了使用LED/OLED技術(shù)的燈具類產(chǎn)品，測試前不需要進行老化,具體可參見法規(guī)7.7.2章節(jié);

　　10.修改了EUT穩(wěn)定時間的規(guī)范,具體可參見法規(guī)7.8章節(jié);

　　11.針對環(huán)形天線輻射騷擾測試，新增加了對于尺寸大于1.6m的被測物，可以根據(jù)CISPR 14-1中的方法，在開闊場或半電波暗室中使用60cm的環(huán)形天線置于3m的距離進行測試，該測試方法可以替換3m和4m大小的環(huán)形天線測試。

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